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Si(Silicon)는 무엇인가?
Silicon의 어원 “Silicon”이라는 용어는 라틴어 단어 “silex”에서 비롯되었습니다. “Silex”는 “암석”이나 “천문석”을 의미합니다. Silicon 발견의 서막 때는 1808년 어느 한적한 영국. 한 사내가 엄청난 실험을 하고 있었다. 그의 이름은 ‘험프리 데이비'(Humphry Davy) 영국 화학계는 그를 주목하고 있었다. 바로 그가 산소를 독립적으로 발견한 인물이기 때문이다. 그의 즐거움 중에 하나는 전기 분해 였다. “아..전기 분해 고프다. 뭘 분해해 … Read more
XRF
XRF는 X 선을 이용하여 유기물과 무기물 원소에 대한 정성 및 정량분석을 하는데 사용합니다 .시료를 산화용액으로 처리 ( 전처리 ) 하지 않고서도 비파괴 분석을 할 수 있습니다 .정말 가장 강력한 기능이죠. 그리고 분석의 꿈 “비파괴🥰” 가 가능한 장비죠. 장비명 XRF(X-ray Fluorescence, X-선 형광분석) <Rigaku– ZSX Primus II> XRD 대표 분석물질 원소 B( 원자번호 : 5) 에서 U( 원자번호 : 92) 까지의 전 원소를 미량까지 분석*단, Carbon은 선택적으로 장비의 상태나 기호에 따라 … Read more
Surface Damage depth
ASTM F950-98(Standard Test Method for Measuring the Depth of Crystal Damage of a Mechanically Worked Silicon Slice Surface by Angle Polishing and Defect Etching)를 기반으로 한 기술로써 가공된 시료의 잔류 Damage 를 모서리 가공을 통해 확인하는 방법 가공 damage를 보는 직관적인 기술로써 가공으로 인한 damage 확인이 가능하다. 공정명 Damage depth 분석 할수 있는 것들 Silicon, Quartz … Read more
DSC
DSC는 측정물질 및 기준물질의 온도를 프로그램에 따라 변화시키면서, 측정물질과 기준물질에 대한 에너지 입력차(ΔH)를 온도의 함수로 측정하는 방법으로 시료에 대한 열적 흐름(Heat flow)을 측정한다. 섬광법(Light Flash Method)을 이용한 열전도도 측정의 비열결과를 지원한다 일반적으로 아래와 같은 지표들이 확인가능하다. 장비명 DSC(Differential Scanning Calorimetry, 차온분석법) NETZSCH – DSC 204 F1 Phoenix DSC 대표 분석물질 분석 할수 있는 것들 단위검출한계 … Read more