ATS+

DSC

DSC는 측정물질 및 기준물질의 온도를 프로그램에 따라 변화시키면서, 측정물질과 기준물질에 대한 에너지 입력차(ΔH)를 온도의 함수로 측정하는 방법으로 시료에 대한 열적 흐름(Heat flow)을 측정한다.  섬광법(Light Flash Method)을 이용한 열전도도 측정의 비열결과를 지원한다 일반적으로 아래와 같은 지표들이 확인가능하다. 장비명 DSC(Differential Scanning Calorimetry, 차온분석법) NETZSCH – DSC 204 F1 Phoenix DSC 대표 분석물질 분석 할수 있는 것들 단위검출한계 … Read more

LFA

샘플의 아랫면에 레이저를 투사하여 가열하고, 샘플의 윗면에서의 온도변화를 적외선 센서로 측정 온도곡선 그래프를 작성하는 장비 엄밀히 말하면 LFA는 열전도도를 측정할 수 없습니다. 정확히는 열확산계수를 측정하는 장비입니다.😦(뭔소리야…)아래서 더 자세히 알아보겠습니다. 장비명 LFA(Laser Flash Analysis), NETZSCH-LFA467 대표업체 내용 NETZSCH Netzsch는 열분석 및 재료 시험에 사용되는 다양한 장비를 생산하는 회사로, LFA 457 MicroFlash 등의 모델을 생산합니다. TA Instruments … Read more

BET

일정 온도에서 기체의 압력을 변화시켜가면서 고체 표면에 흡착된 기체의 양을 측정하도록 제작된 장비. 시료 표면에 N2를 흡착시켜 흡착된 가스로 BET 식을 이용하면 표면적을 확인 할 수 있는 장비 장비명 BET(Brunauer Emmett Teller) : 비표면적 분석장비 BET 대표 분석물질 다공성이 있는 물질 분석 할수 있는 것들 단위검출한계 <micromeritics BET 측정결과> 주로 사용 되는 측정 지표 및 … Read more

XRD

X-ray 회절(XRD)은 시료에 X-ray를 조사하여 시료의 결정 구조를 분석하는 기술입니다. 현존하는 많은 물질과 광물들 그리고 신소재들이 이 장비로 인해 비약적인 성장을 이루었습니다.X-Ray가 물질의 원자에 조사됐을때, 어떤 반응과 방법에 의해서 확인되는지 확인해보시죠. 장비명 X-ray 회절 (X-ray Diffraction) RIGAKU – SmartLab XRD 대표 분석물질 물질 내용 예시 결정질 물질 결정질 물질은 원자들이 규칙적인 배열을 이루는 물질입니다. 예를 … Read more

ICP-MS

ICP-MS(Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry)는 미량의 물질을 분석하는 과학적인 방법으로, 원자량법(Atomic Mass Spectrometry)의 한 형태입니다. 이 방법은 원자 질량 비율을 측정하여 물질 내에 존재하는 다양한 원소의 정량 및 정성 분석을 수행합니다. ICP-MS는 뛰어난 감도와 정확성을 가지고 있어 환경, 식품, 의약품 등 다양한 분야에서 사용되며, 흔히 금속 원소나 무기 물질의 추적 및 분석에 활용됩니다. 이 기술은 … Read more

CIC

복합 화학물질은 분석 물질을 추출하거나 간섭 매트릭스를 제거하기 위해서 시료 준비 단계부터 전처리가 필요합니다.기존 이온 크로마토그래피(IC)는 이와 같은 분석이 매우 어렵습니다.CIC는 이를 보완한 분석 기기로 IC에 연소 전처리 장치를 연결함으로써, 시료를 직접적으로 전처리하여 오염을 최소화하고정확도를 향상시켜 소량의 시료도 분석 가능합니다.정확도를 향상시켜 소량의 시료도 분석 가능합니다 장비명 CIC (Combustion Ion Chromatography System,연소형 이온크로마토그래피) Thermo ISC-1000, AQF(DIONEX … Read more